창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
| 내부 부품 번호 | EIS-TNPW12061K91BEEN | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
| 지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
| 규격서 | TNPW e3 Series | |
| 제품 교육 모듈 | TNPW Thin Film Chip Resistors | |
| 주요제품 | High-Stability Thin-Film Flat Chip Resistors | |
| EDA/CAD 모델 | Accelerated Designs에서 다운로드 | |
| 종류 | 저항기 | |
| 제품군 | 칩 저항기 - 표면실장(SMD, SMT) | |
| 제조업체 | Vishay Dale | |
| 계열 | TNPW | |
| 포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
| 부품 현황 | * | |
| 저항(옴) | 1.91k | |
| 허용 오차 | ±0.1% | |
| 전력(와트) | 0.25W, 1/4W | |
| 구성 | 박막 | |
| 특징 | 황화 방지, 자동차 AEC-Q200 자격 취득, 내습성 | |
| 온도 계수 | ±25ppm/°C | |
| 작동 온도 | -55°C ~ 125°C | |
| 패키지/케이스 | 1206(3216 미터법) | |
| 공급 장치 패키지 | 1206 | |
| 크기/치수 | 0.126" L x 0.063" W(3.20mm x 1.60mm) | |
| 높이 | 0.026"(0.65mm) | |
| 종단 개수 | 2 | |
| 표준 포장 | 1,000 | |
| 다른 이름 | TNPW1206 1K91 0.1% T9 E52 E3 | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
| 대체 부품 (교체) | TNPW12061K91BEEN | |
| 관련 링크 | TNPW12061, TNPW12061K91BEEN 데이터 시트, Vishay BC Components 에이전트 유통 | |
![]() | NX8045GB-8.000M-STD-CSF-6 | 8MHz ±30ppm 수정 8pF 200옴 -40°C ~ 85°C 표면실장(SMD, SMT) 2-SMD, 무연(DFN, LCC) | NX8045GB-8.000M-STD-CSF-6.pdf | |
![]() | 3364A-1-101E | 100 Ohm 0.2W, 1/5W J Lead Surface Mount Trimmer Potentiometer Cermet 1 Turn Top Adjustment | 3364A-1-101E.pdf | |
![]() | PATT0603E1003BGT1 | RES SMD 100K OHM 0.1% 0.15W 0603 | PATT0603E1003BGT1.pdf | |
![]() | PH74HC138 | PH74HC138 NXP SMD or Through Hole | PH74HC138.pdf | |
![]() | AS4LC256K16EO-60TC | AS4LC256K16EO-60TC ALLIANCE TSOP | AS4LC256K16EO-60TC.pdf | |
![]() | UMD6N-TR | UMD6N-TR ROHM SMD or Through Hole | UMD6N-TR.pdf | |
![]() | 2SC4173 NOPB | 2SC4173 NOPB NEC SC70 | 2SC4173 NOPB.pdf | |
![]() | ADS8472IRGZRG4 | ADS8472IRGZRG4 TI QFN48 | ADS8472IRGZRG4.pdf | |
![]() | PVA3054NS-T | PVA3054NS-T IOR DIP6 | PVA3054NS-T.pdf | |
![]() | ECJGVB0J225M | ECJGVB0J225M PANASONIC SMD or Through Hole | ECJGVB0J225M.pdf | |
![]() | S-1170B30PD-0TPTFG | S-1170B30PD-0TPTFG SII PBFREE | S-1170B30PD-0TPTFG.pdf |