창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 5 주
내부 부품 번호 | EIS-ASAT TEST DIE | |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
시리즈 | ASAT TEST DIE | |
EDA/CAD 모델 | - | |
종류 | 전자 부품 | |
공차 | - | |
풍모 | - | |
작동 온도 | - | |
정격 전압 | - | |
정격 전류 | - | |
최종 제품 | - | |
포장 종류 | BGA | |
무게 | 0.001 KG | |
대체 부품 (교체) | ASAT TEST DIE | |
관련 링크 | ASAT TE, ASAT TEST DIE 데이터 시트, - 에이전트 유통 |
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![]() | MA-505 20.0000M-C0:ROHS | 20MHz ±50ppm 수정 18pF 40옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead) | MA-505 20.0000M-C0:ROHS.pdf | |
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![]() | T491D227M016AT | T491D227M016AT KEMET SMD or Through Hole | T491D227M016AT.pdf | |
![]() | GRM033CE3R9CD01E | GRM033CE3R9CD01E ORIGINAL SMD or Through Hole | GRM033CE3R9CD01E.pdf | |
![]() | STP20NF20,S | STP20NF20,S ST/ SMD or Through Hole | STP20NF20,S.pdf | |
![]() | TA7797 | TA7797 TOSHIBA DIP | TA7797.pdf |