창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
| 내부 부품 번호 | EIS-CSD23381F4 | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
| 지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
| 규격서 | CSD23381F4 | |
| PCN 설계/사양 | DSBGA/uSIP 22/Jun/2016 | |
| PCN 조립/원산지 | Assembly/Test Site Transfer 19/Dec/2014 | |
| 제조업체 제품 페이지 | CSD23381F4 Specifications | |
| 종류 | 이산 소자 반도체 제품 | |
| 제품군 | FET - 단일 | |
| 제조업체 | Texas Instruments | |
| 계열 | NexFET™ | |
| 포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
| 부품 현황 | 유효 | |
| FET 유형 | MOSFET P-Chan, 금속 산화물 | |
| FET 특징 | 표준 | |
| 드레인 - 소스 전압(Vdss) | 12V | |
| 전류 - 연속 드레인(Id) @ 25°C | 2.3A(Ta) | |
| Rds On(최대) @ Id, Vgs | 175m옴 @ 500mA, 4.5V | |
| Id 기준 Vgs(th)(최대) | 1.2V @ 250µA | |
| 게이트 전하(Qg) @ Vgs | 1.14nC(4.5V) | |
| 입력 정전 용량(Ciss) @ Vds | 236pF @ 6V | |
| 전력 - 최대 | 500mW | |
| 작동 온도 | -55°C ~ 150°C(TJ) | |
| 실장 유형 | 표면실장(SMD, SMT) | |
| 패키지/케이스 | 3-XFDFN | |
| 공급 장치 패키지 | 3-PICOSTAR | |
| 표준 포장 | 3,000 | |
| 다른 이름 | 296-40002-2 CSD23381F4-ND | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
| 대체 부품 (교체) | CSD23381F4 | |
| 관련 링크 | CSD233, CSD23381F4 데이터 시트, Texas Instruments 에이전트 유통 | |
![]() | 445A25E25M00000 | 25MHz ±20ppm 수정 20pF 40옴 -10°C ~ 60°C 표면실장(SMD, SMT) 2-SMD | 445A25E25M00000.pdf | |
![]() | PTN1206E2001BST1 | RES SMD 2K OHM 0.1% 0.4W 1206 | PTN1206E2001BST1.pdf | |
![]() | BAT54C WV3 | BAT54C WV3 ORIGINAL SOT23 | BAT54C WV3.pdf | |
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![]() | D1834G | D1834G NEC QFP | D1834G.pdf | |
![]() | AM2764A-4DCB | AM2764A-4DCB ORIGINAL SMD or Through Hole | AM2764A-4DCB.pdf | |
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![]() | MBS8_RCG | MBS8_RCG TSC SMD or Through Hole | MBS8_RCG.pdf | |
![]() | KXG1212C | KXG1212C NA NA | KXG1212C.pdf |