창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
내부 부품 번호 | EIS-CDBW0520L-G | |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
규격서 | CDBW0520L~0540-G | |
제품 교육 모듈 | Flat Chip Diodes | |
특정유해물질규제지침(RoHS) 정보 | RoHS Declaration SOD-123 Series Material Declaration | |
PCN 포장 | Label D/C Chg24/Mar/2016 | |
EDA/CAD 모델 | Accelerated Designs에서 다운로드 | |
카탈로그 페이지 | 1566 (KR2011-KO PDF) | |
종류 | 이산 소자 반도체 제품 | |
제품군 | 다이오드, 정류기 - 단일 | |
제조업체 | Comchip Technology | |
계열 | - | |
포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
부품 현황 | 유효 | |
다이오드 유형 | 쇼트키 | |
전압 - DC 역방향(Vr)(최대) | 20V | |
전류 -평균 정류(Io) | 500mA | |
전압 - 순방향(Vf)(최대) @ If | 385mV @ 500mA | |
속도 | 고속 회복 =< 500 ns, > 200mA(Io) | |
역회복 시간(trr) | - | |
전류 - 역누설 @ Vr | 250µA @ 20V | |
정전 용량 @ Vr, F | - | |
실장 유형 | 표면실장(SMD, SMT) | |
패키지/케이스 | SOD-123 | |
공급 장치 패키지 | SOD-123 | |
작동 온도 - 접합 | 125°C(최대) | |
표준 포장 | 3,000 | |
다른 이름 | 641-1326-2 CDBW0520-G CDBW0520LG | |
무게 | 0.001 KG | |
신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
대체 부품 (교체) | CDBW0520L-G | |
관련 링크 | CDBW05, CDBW0520L-G 데이터 시트, Comchip Technology 에이전트 유통 |
416F25013CKR | 25MHz ±10ppm 수정 8pF 200옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC) | 416F25013CKR.pdf | ||
CRGH0805J39R | RES SMD 39 OHM 5% 1/3W 0805 | CRGH0805J39R.pdf | ||
TD035SHED1 | TD035SHED1 CHIMEI SMD or Through Hole | TD035SHED1.pdf | ||
GMB51001F2P11U | GMB51001F2P11U GMT SMD or Through Hole | GMB51001F2P11U.pdf | ||
MCF5307AI | MCF5307AI FREESCAL QFP208 | MCF5307AI.pdf | ||
20ETF06STRLPBF | 20ETF06STRLPBF IR DPAK | 20ETF06STRLPBF.pdf | ||
DDC644 | DDC644 ORIGINAL SMD or Through Hole | DDC644.pdf | ||
IL-FPR-U14S-HF-N1 | IL-FPR-U14S-HF-N1 MELEXIS SMD | IL-FPR-U14S-HF-N1.pdf | ||
M30602M8-085FP(RH-IX2593AFZZ) | M30602M8-085FP(RH-IX2593AFZZ) MIT QFP | M30602M8-085FP(RH-IX2593AFZZ).pdf | ||
UPD61116GM-100-UEV | UPD61116GM-100-UEV NEC LQFP216 | UPD61116GM-100-UEV.pdf | ||
A93584-000 | A93584-000 TEConn/Critchl SMD or Through Hole | A93584-000.pdf | ||
PMB2411F-V11GEG | PMB2411F-V11GEG INFINEON TQFP-48L | PMB2411F-V11GEG.pdf |