창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
내부 부품 번호 | EIS-AXS-3225-04-04 | |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
규격서 | AXS-3225-04-04 | |
주요제품 | AXS Series Precision Test and Burn-In Sockets | |
카탈로그 페이지 | 1685 (KR2011-KO PDF) | |
종류 | 수정 및 발진기 | |
제품군 | 소켓 및 절연체 | |
제조업체 | Abracon LLC | |
계열 | - | |
부품 현황 | 유효 | |
유형 | 소켓, 테스트 및 번 인 | |
함께 사용 가능/관련 부품 | 수정체, 발진기 | |
접점 개수 | 4 | |
장치 크기 | 3.20mm x 2.50mm x 1.00mm | |
표준 포장 | 25 | |
다른 이름 | 535-10122 AXS32250404 | |
무게 | 0.001 KG | |
신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
대체 부품 (교체) | AXS-3225-04-04 | |
관련 링크 | AXS-3225, AXS-3225-04-04 데이터 시트, Abracon LLC 에이전트 유통 |
![]() | 30KPA54-B | TVS DIODE 54VWM 95.97VC P600 | 30KPA54-B.pdf | |
![]() | ABM8X-101-24.000MHZ-T | 24MHz ±10ppm 수정 10pF 60옴 -40°C ~ 125°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC) | ABM8X-101-24.000MHZ-T.pdf | |
![]() | 416F27113ITT | 27.12MHz ±10ppm 수정 6pF 200옴 -40°C ~ 85°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC) | 416F27113ITT.pdf | |
![]() | SAK-C164C1-LM | SAK-C164C1-LM INFINEON QFP | SAK-C164C1-LM.pdf | |
![]() | 2SA75 | 2SA75 NEC CAN | 2SA75.pdf | |
![]() | R460003 | R460003 ORIGINAL SMD | R460003.pdf | |
![]() | MIP173 | MIP173 PANASOMIC TO263 | MIP173.pdf | |
![]() | S5L8030U | S5L8030U SAMSUNG TQFP | S5L8030U.pdf | |
![]() | IC7-68PDR-1.27DS-R | IC7-68PDR-1.27DS-R HRS SMD or Through Hole | IC7-68PDR-1.27DS-R.pdf | |
![]() | CD95-B2GA471KYGSA | CD95-B2GA471KYGSA ORIGINAL SMD or Through Hole | CD95-B2GA471KYGSA.pdf | |
![]() | TD025THEG1 | TD025THEG1 CMI SMD or Through Hole | TD025THEG1.pdf | |
![]() | 74LVT162245BDG | 74LVT162245BDG NXP 48TSSOP | 74LVT162245BDG.pdf |