창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
| 내부 부품 번호 | EIS-ADT7483AARQZ-RL | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
| 지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
| 규격서 | ADT7483A | |
| PCN 부품 번호 | ADI to ON Semi 19/Dec/2007 | |
| 종류 | 센서, 트랜스듀서 | |
| 제품군 | 온도 센서 - 아날로그 및 디지털 출력 | |
| 제조업체 | ON Semiconductor | |
| 계열 | - | |
| 포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
| 부품 현황 | * | |
| 센서 유형 | 디지털, 로컬/원격 | |
| 감지 온도 - 국부 | 0°C ~ 127°C | |
| 감지 온도 - 원격 | -64°C ~ 191°C | |
| 출력 유형 | SMBus | |
| 전압 - 공급 | 3 V ~ 3.6 V | |
| 분해능 | - | |
| 특징 | 단발, 출력 스위치, 프로그래밍 가능 제한, 대기 모드 | |
| 정확도 - 최고(최저) | ±1°C(±2.5°C) | |
| 테스트 조건 | 0°C ~ 70°C(-40°C ~ 100°C) | |
| 작동 온도 | -40°C ~ 125°C | |
| 패키지/케이스 | 16-SSOP(0.154", 3.90mm 폭) | |
| 공급 장치 패키지 | 16-QSOP | |
| 표준 포장 | 2,500 | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
| 대체 부품 (교체) | ADT7483AARQZ-RL | |
| 관련 링크 | ADT7483AA, ADT7483AARQZ-RL 데이터 시트, ON Semiconductor 에이전트 유통 | |
![]() | 0208.750DRT1P | FUSE GLASS 750MA 350VAC 2AG | 0208.750DRT1P.pdf | |
![]() | SLF10145T-471MR47-H | 470µH Shielded Wirewound Inductor 470mA 1.236 Ohm Max Nonstandard | SLF10145T-471MR47-H.pdf | |
![]() | G4FD11077 | G4FD11077 ORIGINAL SMD or Through Hole | G4FD11077.pdf | |
![]() | MB89965PFV1-G-115-BN | MB89965PFV1-G-115-BN ORIGINAL QFP | MB89965PFV1-G-115-BN.pdf | |
![]() | 2SC2229-O(F,M) | 2SC2229-O(F,M) TOSHIBA SMD or Through Hole | 2SC2229-O(F,M).pdf | |
![]() | MLR1608M27NKTC000 | MLR1608M27NKTC000 ORIGINAL SMD or Through Hole | MLR1608M27NKTC000.pdf | |
![]() | 10V47UFB | 10V47UFB AVXNEC SMD or Through Hole | 10V47UFB.pdf | |
![]() | LT2614IS8 | LT2614IS8 LT SSOP | LT2614IS8.pdf | |
![]() | 015AZ5.1-V | 015AZ5.1-V TOSHIBA SMD or Through Hole | 015AZ5.1-V.pdf | |
![]() | QG5000X3 | QG5000X3 INTEL BGA | QG5000X3.pdf | |
![]() | FCC17B25AD-294 | FCC17B25AD-294 AML SMD or Through Hole | FCC17B25AD-294.pdf |